Rp 600.000
DESKRIPSI LAYANAN | Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf) Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai: 1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya). 2. Morfologi,…
- Laboratorium KST Samaun Samadikun - Sub Laboratorium Kimia
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- Bandung - Cisitu
Gedung Basics Tower 2 Lantai 1, BRIN Bandung KST Samaun Samadikun. Jalan Sangkuriang 1-9, Kecamatan Coblong, Kota Bandung - 089528898492
- lab.karakteristikcisitu@gmail.com
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf)
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
1 Sampel maksimal 2 titik dengan 5 perbesaran.
Ketika mengajukan layanan mohon menuliskan ukuran/dimensi sample. Dimensi sampel 2 x 2 x 2 cm dan sampel dalam keadaan kering.
Syarat Pengajuan:
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
1 Sampel maksimal 2 titik dengan 5 perbesaran.
Ketika mengajukan layanan mohon menuliskan ukuran/dimensi sample. Dimensi sampel 2 x 2 x 2 cm dan sampel dalam keadaan kering.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.55 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
